IYCr 2014 | Anno Internazionale della Cristallografia

Un fascio di raggi X largo circa 1 mm viene proiettato su un cristallo di dimensioni dell’ordine di qualche decina di micron (come un granello di zucchero). Il fascio viene diffratto dal cristallo, cioè viene deviato in tanti raggi la cui direzione dipende dalla struttura intima del cristallo. La posizione e l’intensità dei raggi diffratti è misurata con un detector sensibile ai raggi X, come una lastra fotografica. L’elaborazione matematica di questi dati permette di ricostruire l’immagine della struttura cristallina.